详细摘要： zonglen HAST偏压老化测试系统，B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯 片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱...
产品型号：zonglen所在地：成都市更新时间：2025-04-28 在线留言
成都中冷低温科技有限公司
成都中冷低温科技有限公司
详细摘要： zonglen HAST偏压老化测试系统，B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯 片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱...
产品型号：zonglen所在地：成都市更新时间：2025-04-28 在线留言
详细摘要： 绝缘电阻劣化离子迁移CAF评估系统， 评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000...
产品型号：zonglen所在地：成都市更新时间：2025-04-28 在线留言
详细摘要： ECM-HAST绝缘电阻劣化评估系统， 评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～100...
产品型号：zonglen所在地：成都市更新时间：2025-04-28 在线留言
详细摘要： B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统，适用于IC封装，半导体，微电子芯 片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速 寿命信赖性试验，使...
产品型号：zonglen所在地：成都市更新时间：2025-04-28 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
